射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度（-120℃ ~ +300℃）。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估不可或缺的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

一．對比于傳統(tǒng)的溫箱，有以下幾個特征:

（1）溫度范圍：-120℃ ~ +200℃；

（2）升降溫速率非常快速，-55℃～150℃＜10秒；

（3）溫控精度：±1℃； 

（4）溫度設(shè)置能力：±0.1℃； 

（5）溫度顯示能力：±0.1℃； 

（6）最大氣流量：25m3/h； 

（7）實時監(jiān)控被測IC真實溫度, 實現(xiàn)閉環(huán)反饋，實時調(diào)整氣體溫度； 

（8）升降溫時間可控，可程序化操作、手動操作、遠(yuǎn)程控制。

二．經(jīng)典應(yīng)用場合：

（1）需要快速升/降溫的應(yīng)用場合 

（2）針對PCB板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊)，將其隔離出來單獨進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件

（3）對測試機平臺load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán)/ 沖擊；傳統(tǒng)溫箱無法針對此類測試。

（4）對整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。